絕緣材料的介質損耗測量系統

高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、SBJDCS-B/SBJDCS-C型介電常數及介質損耗測試儀、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入SBJDCS-B或SBJDCS-C）、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的zui佳解決方案。 1、《S916介質損耗裝置》（測試夾具）是測試系統的核心檢測部件，它由壹個LCD數字顯示的微測量裝置和壹對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用於夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。S916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品，精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、壹鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。
2、基於串聯諧振原理的《SBJDCS-B/SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀》是測試系統的二次儀表，其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的zui高成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描（SBJDCS-C）的全新搜索功能。該表具有先進的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε），把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。 　　 SBJDCS-B/SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關註量程和換算，徹底摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落後狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）測量的理想工具。
3、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入SBJDCS-B或SBJDS-C），實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數據的精確度和測量的同壹性，是人工讀值和人工計算無法比擬的。 4、壹個高品質因數（Q）的電感器是測量系統必不可少的輔助工具，關乎測試的靈敏度和精度，在系統中它與平板電容（S916）構成了基於串聯諧振的測試回路。本系統推薦的電感器為LKI-1電感組，共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。
附表壹,介質損耗測試系統主要性能參數壹覽表
S916測試裝置		SBJDCS-B/SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀
平板電容極片	Φ50mm/Φ38mm可選	頻率範圍	20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調範圍	≥15mm	頻率指示誤差	3×10-5±1個字
夾具插頭間距	25mm±0.01mm	主電容調節範圍	30-500/18-220pF
測微桿分辨率	0.001mm	主調電容誤差	<1%或1pF
夾具損耗角正切值	≦4×10-4 （1MHz）	Q測試範圍	2～1023
附表二,LKI-1電感組典型測試數據
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz 50MHz 233 211 0.9 0.125μH