2、基於串聯諧振原理的《SBJDCS-B/SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀》是測試系統的二次儀表,其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的zui高成就,隨之帶來了頻率、電容雙掃描(SBJDCS-C)的全新搜索功能。該表具有先進的人機界面,采用LCD液晶屏顯示各測量因子:Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε),把被測材料作為平板電容的介質,與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路,以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。
SBJDCS-B/SBJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無須關註量程和換算,徹底摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落後狀況,它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。